半導體檢測儀器是一種用于電子與通信技術領域的電子測量儀器。廣義上的半導體檢測設備，分為前道量測（又稱半導體量測設備）和后道測試（又稱半導體測試設備）。前道量檢測主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產品的加工參數(shù)是否達到設計的要求或者存在影響良率的缺陷，屬于物理性的檢測；半導體后道測試設備主要是用在晶圓加工之后、封裝測試環(huán)節(jié)內，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測。據(jù)統(tǒng)計，2023年中國半導體檢測儀器行業(yè)產值為165.1億元ob電競入口，，市場規(guī)模為283.5億元。

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